• A
  • A
  • A
  • АБB
  • АБB
  • АБB
  • А
  • А
  • А
  • А
  • А
Обычная версия сайта

Московский институт электроники
и математики им. А.Н. Тихонова

Новости

Об С.У. Увайсове

Ознакомившись с материалом статьи «РИНЦ учит врать?», опубликованной в газете «Троицкий вариант» 6 октября и содержащей серьезные обвинения, выдвинутые в адрес профессора НИУ ВШЭ С.У. Увайсова, руководство НИУ ВШЭ приняло решение о временном отстранении С.У. Увайсова с должности заместителя декана по науке МИЭМ до выяснения всех обстоятельств дела

В МИЭМ НИУ ВШЭ открыт Центр управления полетом микроспутников

29 октября состоялось открытие первого в России университетского Центра управления полетом (ЦУП) микроспутников, обладающего уникальной возможностью управлять малыми космическими аппаратами разных стран, работающими на околоземных орбитах. Базой университетского ЦУПа стал Московский институт электроники и математики НИУ ВШЭ.

II Всероссийская объединенная научная конференция «Проблемы СВЧ электроники» и «Инновационные решения Keysight Technologies»

26-28 октября 2015 г. в МИЭМ НИУ ВШЭ состоялась II Всероссийская объединенная научная конференция «Проблемы СВЧ электроники» и «Инновационные решения Keysight Technologies», посвященная достижениям и перспективам развития сверхвысокочастотной электроники в России и за рубежом.

Встреча с представителями компании Rohde & Schwarz в МИЭМ НИУ ВШЭ

27 октября 2015 г. в МИЭМ НИУ ВШЭ состоялась встреча с представителями компании Rohde & Schwarz, являющейся одним из лидеров в области производства контрольно-измерительной аппаратуры, средств и систем телерадиовещания, радиосвязи и радиомониторинга.

23 октября 2015 в возрасте 77 лет скончался профессор департамента прикладной математики МИЭМ НИУ ВШЭ, д.ф.-м.н. Михаил Григорьевич Шур

Михаил Григорьевич работал в МИЭМ с 1967 года. Читал курсы "Математический анализ", "Теория функций комплексного переменного", "Функциональный анализ", "Теория вероятностей и математическая статистика", спецкурсы: "Дополнительные главы функционального анализа", "Марковские процессы", "Эргодическая теория" и др.
Под  его руководством защитили кандидатские диссертации три ученика.

НИЛ космических исследований в области технологий, систем и процессов МИЭМ НИУ ВШЭ выиграла конкурс проектов

Научно-исследовательская лаборатория космических исследований в области технологий, систем и процессов МИЭМ НИУ ВШЭ выиграла конкурс проектов на проведение прикладных научных исследований и экспериментальных разработок по приоритетным направлениям развития науки, технологий и техники в рамках федеральной целевой программы «Исследования и разработки по приоритетным направлениям развития научно-технического комплекса России на 2014-2020 годы».

15 октября 2015г. cостоялась встреча с представителями делегации посольства Китайской Народной Республики в Москве в МИЭМ НИУ ВШЭ

На состоявшейся встрече научный руководитель, директор МИЭМ НИУ ВШЭ Тихонов А.Н. сделал презентацию об образовательной и научной деятельности МИЭМ НИУ ВШЭ.

МИЭМ НИУ ВШЭ открывает новую магистерскую программу

В 2016 году в Московском институте электроники и математики Высшей школы экономики откроется новая магистерская программа «Защита информации в компьютерных системах и сетях» (ЗИКСС). Программа разработана Кафедрой компьютерной безопасности  Департамента прикладной математики МИЭМ НИУ ВШЭ.

Международное совещание экспертов по проблеме «Влияние неразрушающих методов тестирования и контроля на технический прогресс (VIIIth International Workshop on NonDestructive Test (NDT) in Progress. Meeting of NDT Experts»

С 12 по 14 октября 2015 г. в столице Чехии г. Прага проходило Международное совещание экспертов по проблеме «Влияние неразрушающих методов тестирования и контроля на технический прогресс (VIIIth International Workshop on NonDestructive Test (NDT) in Progress. Meeting of NDT Experts».

Молодые ученые из МИЭМ НИУ ВШЭ стали лауретами премии Правительства РФ в области науки и техники за 2015 год

Поздравляем Артюхову М.А., Иванова И.А. и Полесского С.Н. с присуждением премии за разработку и внедрение информационной технологии управления надежностью электронных средств.