• A
  • A
  • A
  • АБB
  • АБB
  • АБB
  • А
  • А
  • А
  • А
  • А
Обычная версия сайта
Контакты

Адрес: 123458, Москва, ул. Таллинская, 34

Телефон: +7 (495) 772-9590 * 15198

E-mail: blvov@hse.ru

Руководство
Руководитель Львов Борис Глебович
Заместитель руководителя Пожидаев Евгений Димитриевич
Заместитель руководителя Самбурский Лев Михайлович
Заместитель руководителя Каган Максим Юрьевич
Заместитель руководителя Селиверстова Людмила Петровна

Новости

Первый выпуск бакалавров МИЭМ НИУ ВШЭ

30 июня состоялась торжественная церемония вручения дипломов выпускникам бакалавриата и магистратуры. Это первый выпуск бакалавров, которые поступали во вновь образованную структуру – МИЭМ НИУ ВШЭ. Поздравляем!

Монография «IBIS-модели и их применение в задачах ЭМС»

Вышла в свет монография под общей редакцией профессора департамента электронной инженерии Леонида Николаевича Кечиева «IBIS-модели и их применение в задачах ЭМС» из уникальной серии «Библиотека электромагнитной совместимости», основанной в 2004 году.

Юбилей профессора Владимира Петровича Кулагина

Поздравляем профессора департамента электронной инженерии Владимира Петровича Кулагина с Юбилеем!

Всероссийская научно-техническая конференция «Радиационная стойкость электронных систем»

Преподаватели департамента электронной инженерии К.О. Петросянц, И.А. Харитонов, Л.М. Самбурский, Р.Ш. Ихсанов приняли участие в ежегодной Всероссийской научно-технической конференции «Радиационная стойкость электронных систем», проводимой ФГУПП «Научно-исследовательский институт приборов».

Визит в МИЭМ НИУ ВШЭ директора Международного Центра по плотной замагниченной плазме ЮНЕСКО доктора Мариана Падуха

C рабочим визитом МИЭМ НИУ ВШЭ посетил ведущий специалист в области горячей плазмы и ее диагностики, руководитель департамента Института физики плазмы и лазерного микросинтеза (г. Варшава, Польша), PhD, Директор Международного Центра по плотной замагниченной плазме ЮНЕСКО доктор Мариан Падух.

Научно-методический семинар "Современные электрохимические источники тока"

26 мая состоялся очередной научно-методический семинар Академического совета по научной работе департамента электронной инженерии. С докладом «Современные электрохимические источники тока» выступил доцент департамента электронной инженерии, кандидат физико-математических наук Бограчев Даниил Александрович

Научно-практическая конференция «Опыт комплексного использования результатов космической деятельности в интересах регионов России»

Профессора департамента Владимир Петрович Кулагин и Алексей Фёдорович Каперко приняли участие в научно-практической конференции, проходившей 25-26 мая в Инновационном центре «Сколково».

Партнерство с компанией National Instruments выходит на стратегически новый уровень

24 мая состоялась встреча ректора НИУ ВШЭ Я.И. Кузьминова и руководства компании National Instruments (США), в результате которой был подписан меморандум о сотрудничестве НИУ ВШЭ и National Instruments.

МИЭМ НИУ ВШЭ получил Сертификат компании National Instruments

Сертификат подтверждает право Центра компьютерных измерительных технологий МИЭМ НИУ ВШЭ действовать в качестве авторизированного технологического центра National Instruments.

Открытие XII Международной IEEE Сибирской конференции по управлению и связи Sibcon-2016

12 мая на базе МИЭМ НИУ ВШЭ состоялось открытие XII Международной IEEE Сибирской конференции по управлению и связи Sibcon-2016, проводимой под председательством руководителя департамента электронной инженерии МИЭМ Бориса Глебовича Львова.