• A
  • A
  • A
  • АБB
  • АБB
  • АБB
  • А
  • А
  • А
  • А
  • А
Обычная версия сайта
Контакты

Адрес: 123458, Москва, ул. Таллинская, 34

Телефон: +7 (495) 772-9590 * 15198

E-mail: blvov@hse.ru

Руководство
Руководитель Львов Борис Глебович
Заместитель руководителя Пожидаев Евгений Димитриевич
Заместитель руководителя Самбурский Лев Михайлович
Заместитель руководителя Каган Максим Юрьевич
Заместитель руководителя Селиверстова Людмила Петровна

Наука – Новости

18-я Всероссийская научно-техническая конференция «Радиационная стойкость электронных систем» (СТОЙКОСТЬ-2015)

Сотрудники департамента приняли участие в ежегодной 18-ой Всероссийской научно-технической конференции «Радиационная стойкость электронных систем» (СТОЙКОСТЬ-2015), которая проходила 2-3 июня 2015 г. в г. Лыткарино.

Участие в 16-й Международной конференции по вакуумной электронике (IVEC 2015)

Профессор Департамента электронной инженерии Андрей Альбертович Елизаров принял участие в 16-й Международной конференции по вакуумной электронике (IVEC 2015), которая прошла 27-29 апреля в Пекине (Китай).

Успешно защитился соискатель Антон Козырев!

В диссертационном совете Д 212.028.04 на базе Федерального государственного бюджетного образовательного учреждения Высшего профессионального образования "Волгоградский государственный технический университет" 23 апреля 2015 г. прошла успешная защита диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук соискателя Департамента электронной инженерии МИЭМ НИУ ВШЭ Козырева Антона Александровича, подготовленной под руководством профессора департамента Увайсова С.У.

Семинар "Решения компании Mentor Graphics в области средств проектирования электронных систем. Текущее состояние и перспективы развития"

15 апреля 2015 г. в новом учебном корпусе МИЭМ НИУ ВШЭ пошел обзорный семинар по средствам проектирования компании Mentor Graphics "Решения компании Mentor Graphics в области средств проектирования электронных систем. Текущее состояние и перспективы развития". Семинар проводился совместно дистрибьютором Mentor Graphics, компанией ЗАО «МЕГРАТЕК» и МИЭМ НИУ ВШЭ.

Международный симпозиум «Компьютерные измерительные технологии»

3 апреля состоялся первый международный симпозиум «Компьютерные измерительные технологии», организованный МИЭМ НИУ ВШЭ и компанией National Instruments.

Подведены итоги проведения международной конференции «Инновационные информационные технологии» в Праге

Пятьсот заявок было получено организационным комитетом от пожелавших участвовать в III Международной научно-практической конференции “Инновационные информационные технологии” (I2T). В этом году Высшая школа экономики совместно с Российским центром науки и культуры собирала ее в Праге.

Защита кандидатской диссертации А.А. Климантовича

28 ноября в Федеральном государственном унитарном предприятии «Всероссийский научно-исследовательский институт метрологической службы» состоялась защита кандидатской диссертации аспиранта кафедры МТМиТ ФЭиТ МИЭМ НИУ ВШЭ Климантовича Александра Александровича по теме «Методика оптимизации состава средств измерений в системах менеджмента качества» на соискание ученой степени кандидата технических наук по специальности 05.11.15 – Метрология и метрологическое обеспечение. 

Всероссийская научная конференция «Проблемы СВЧ электроники»

Всероссийская научная конференция «Проблемы СВЧ электроники»
24-25 октября в МИЭМ НИУ ВШЭ состоялась Всероссийская научная конференция «Проблемы СВЧ электроники», посвященная достижениям и перспективам развития этой области электроники в России и за рубежом. Организаторы конференции - МИЭМ НИУ ВШЭ, Научный совет РАН по физической электроники, Российское научно-техническое общество радиотехники, электроники и связи им. А.С. Попова.

Конференция «Инновационные информационные технологии»

С 22 по 26 апреля 2013 г. в г. Прага Чешской республики прошла II Международная научно-практическая конференция «Инновационные информационные технологии» (I2T).

Конференция AMT 2013

Конференция AMT 2013
13 и 14 марта 2013 г. в городе Сямынь (Xiamen), КНР, проходила международная конференция по современным методам измерения и тестирования в электронике «3rd International Conference on Advanced Measurement and Test» (AMT 2013), организованная InformationEngineeringResearchInstitute (IERI, США/Сингапур).