XV Международная конференция в области проектирования и тестирования электронных схем

В сербском городе Нови Сад с 29 сентября по 2 октября при поддержке Международного института инженеров электротехники и электроники (IEEE) проходила XV Международная конференция в области проектирования и тестирования электронных схем (15-th IEEE EAST-WEST DESIGN & TEST SYMPOSIUM, EWDTS 2017).

На конференции среди прочих сообщений были представлены два доклада сотрудников департамента электронной инженерии МИЭМ НИУ ВШЭ, посвящённые тестированию и моделированию МОП-транзисторов с учётом внешних воздействий, имеющихся в космическом пространстве: радиационного облучения, повышенной (до 300°C) и пониженной (до минус 200°C):

• Konstantin O. Petrosyants, Lev M. Sambursky, Igor A. Kharitonov, Mamed R. Ismail-zade, «Generalized Test Automation Method for MOSFET’s Including Characteristics Measurements and Model Parameters Extraction for Aero-Space Applications,»
• Kharitonov I.A., «Electro-Thermo-Rad SPICE models for SOI/SOS MOSFETs,»