• A
  • A
  • A
  • АБB
  • АБB
  • АБB
  • А
  • А
  • А
  • А
  • А
Обычная версия сайта

Московский институт электроники
и математики им. А.Н. Тихонова

Ученые и студенты МИЭМ приняли участие в VI Международном Форуме «Микроэлектроника 2020»

В рамках Форума, который прошел 22-24 сентября в Гурзуфе, состоялись XIII Международная Конференция «Кремний-2020» и XII Школа молодых ученых и специалистов по актуальным проблемам физики, материаловедения, технологии и диагностики кремния, нанометровых структур и приборов на его основе, где миэмовцы представили свои доклады. Студенческий доклад Дмитрия Звягинцева был признан лучшим в своей секции.

Основными задачами Школы и Конференции были привлечение в науку о микроэлектронике талантливой молодежи, обсуждение важнейших проблем современной микроэлектроники, обмен новейшей научной информацией в области микроэлектронных технологий и материаловедения.

Организаторами Школы и Конференции выступили Отделение нанотехнологий и информационных технологий Российской академии наук (ОНИТ РАН), научный совет ОНИТ РАН «Фундаментальные проблемы элементной базы информационно-вычислительных и управляющих систем и материалов для ее создания», Консорциум «Перспективные материалы и элементная база информационных и вычислительных систем», АО «Научно-исследовательский институт молекулярной электроники» (НИИМЭ).

В работе конференции приняли участие специалисты и студенты МИЭМ НИУ ВШЭ.

В частности, доцент департамента электронной инженерии Лев Самбурский. Говоря о темах, с которыми в этом году на конференцию приехали миэмовцы (наше представительство выросло по сравнению с прошлой конференций), Лев Михайлович отметил: «В целом тема, которой мы занимаемся, общая: моделирование технологических процессов, приборных характеристик, схемотехнических характеристик: такая цепочка передач информации и спайс-моделирования с учетом внешних воздействий, которые есть в первую очередь в космической электронике. Это радиационные воздействия разных видов, которые учитываются в моделях тем или иным способом и тепловые воздействия, как со сверхвысокой, так и криогенной температурой до 4 кельвинов».

Константин Петросянц
Константин Петросянц

Руководителем секции «Моделирование процессов роста кремния и структур на его основе, применение TCAD и SPICE моделей» стал ординарный профессор НИУ ВШЭ Константин Петросянц, который высоко оценил значение конференции – и для науки, и для молодых ученых:  «Конференция «Микроэлектроника» развивает традиции, которые у нас были до перестройки в стране. Это как раз то место, где можно воочию обменяться мнениями, обсудить проблемы в кулуарах. Когда есть конкуренция – это здорово! Ну и место имеет значение: Гурзуф для молодых – это прекрасно. Молодой человек приезжает, докладывает, может пойти посмотреть чудесные крымские места, поехать на экскурсии, здесь очень много впечатлений, это здорово насыщает жизнь. А для молодости не только зарплата и рациональные вещи важны, но и чувственные, культурные впечатления».

Среди участников были также молодые специалисты и студенты МИЭМ. Первых представляли преподаватели департаментов компьютерной и электронной инженерии Дмитрий Попов и Мамед Исмаил-Заде, последний представил доклад на тему «SPICE модели субмикронных КМОП транзисторов в диапазоне криогенной температуры». Дмитрий Попов, старший преподаватель департамента компьютерной инженерии, выступил с докладом «Моделирование сбоеустойчивости SELBOX и DSOI КМОН КНИ ячеек памяти. «Один из наиболее значимых результатов участия в школе молодых учёных - общение и новые знакомства с такими же вчерашними студентами, как ты сам, и с известными специалистами, учёными, академиками. Лично мне такое общение позволило обсудить мои исследования и сделать выводы, которые позволят улучшить материал для кандидатской диссертации», - поделился Дмитрий общим впечатлением.

Дмитрий Звягинцев
Дмитрий Звягинцев

Среди докладчиков – студент 1 курса магистерской программы «Материалы. Приборы. Нанотехнологии» Дмитрий Звягинцев, доклад которого «Измерение и моделирование влияния низкоинтенсивного излучения на цифровые КМОП ИС» был признан лучшим в своей секции. Дмитрий рассказал о результатах исследования, проведенного совместно со специалистами МИФИ. Речь шла об измерении характеристик цифровых КМОП схем при воздействии низкоинтенсивного излучения и построении модели радиационного воздействия на основе экспериментальных данных. 

Дмитрий поделился с нами общим впечатлением: «Участие в конференции "Кремний-2020" дало мне возможность пообщаться с единомышленниками о своих работах в приятной обстановке. Было интересно узнать, чем занимаются другие люди в данной области. Мероприятие оставило только положительные впечатления».