Точные измерения – основа качества и безопасности

С 15 по 17 мая 2018 года в Москве на ВДНХ в павильоне №75 прошли 14-ый Московский международный инновационный форум и выставка «Точные измерения – основа качества и безопасности», на которой МИЭМ НИУ ВШЭ представлял свои разработки.

Организатором мероприятий являются Министерство промышленности и торговли Российской Федерации (Минпромторг России) и Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии (Росстандарт) при содействии Аппарата Правительства Российской Федерации и Торгово-промышленной палаты Российской Федерации.

Стратегическая задача форума и выставки – создание международной коммуникационной платформы и содействие кооперации в российской системе измерений с целью удовлетворения потребностей страны и общества в высокоточных измерениях. Консолидация усилий власти, науки и бизнеса для развития отечественного приборостроения, повышение эффективности российской системы измерений, совершенствование нормативной базы метрологии и приборостроения с учетом современных международных тенденций для формирования финансовых механизмов поддержки инноваций и их продвижение.

На выставке было представлено более 300 компаний из 11 стран. За время работы выставки ее посетило более 6000 человек.

МИЭМ НИУ ВШЭ представил на выставке стенд «Аппаратно-программный комплекс для измерение электрических характеристик и определения параметров SPICE моделей электронных компонентов, применяемых в аппаратуре, подверженной воздействию температуры и радиации», подготовленным департаментом электронной инженерии МИЭМ НИУ ВШЭ (авторы: Петросянц К.О., Харитонов И.А., Львов Б.Г., Самбурский Л.М., Попов Д.А., Исмаил-Заде М.Р.).

Представляли стенд на выставке профессор Харитонов И.А., ассистент Попов Д.А., студент магистратуры Борисов Д.В.

Стенд вызвал интерес у сотрудников других организаций-экспонентов и посетителей выставки.

Большую помощь организаторам во встрече и сопровождении иностранных гостей выставки оказала команда студентов бакалаврской образовательной программы «Инфокоммуникационные технологии и системы связи» МИЭМ НИУ ВШЭ: Арабов М.Ш., Погорелова М.Д., Филин Д.А., Шейнов Т.Г., Подвойская Т.В., Быкова Е.И.

Участие МИЭМ НИУ ВШЭ в работе выставки было отмечено дипломом: