Крук Евгений Аврамович — и.о. директора, научный руководитель
Абрамешин Андрей Евгеньевич — заместитель директора
Романов Виктор Владимирович — заместитель директора
Костинский Александр Юльевич — заместитель директора
Прохорова Вероника Борисовна — заместитель директора
Тумковский Сергей Ростиславович — заместитель директора по учебной работе
Аксенов Сергей Алексеевич — заместитель директора по научной работе
Адрес: 123458, Москва, ул. Таллинская, д.34
Телефон: 8(495)916-88-29
Факс: 8(495)916-88-29
Эл. почта: miem@hse.ru
![]() |
![]() |
МИЭМ НИУ ВШЭ — институт с 56-летней историей, готовит специалистов для высокотехнологичных отраслей промышленности. Педагогический коллектив МИЭМ включает 1 академика РАН, 4 члена-корреспондента РАН, 34 лауреата государственных премий РФ. Тесные связи с ведущими отраслевыми институтами, институтами РАН, мировыми компаниями, такими как National Instruments, InfoWatch, Zyxel, QNAP, Altium Limited, а также оснащенные новейшим оборудованием лаборатории: 3D визуализации; лазерных технологий; телекоммуникации; кибербезопасности — позволяют готовить востребованных специалистов на самом высоком уровне.
Ступин Р. С., Эрман М. А., Крицын А. А. и др.
М.: АО "РВК", 2018.
Клименкова О. Д., Menshutin A., Shchur L.
Journal of Physics: Conference Series. 2018. Vol. 955. No. 012009. P. 1-6.
Rolich A., Polyakov Y. V., Voskov L. et al.
In bk.: 2018 Moscow Workshop on Electronic and Networking Technologies (MWENT). Proceedings. M.: IEEE, 2018. P. 1-5.
math. arxive. Cornell University, 2018. No. 1808.09251.
С 15 по 17 мая 2018 года в Москве на ВДНХ в павильоне №75 прошли 14-ый Московский международный инновационный форум и выставка «Точные измерения – основа качества и безопасности», на которой МИЭМ НИУ ВШЭ представлял свои разработки.
Организатором мероприятий являются Министерство промышленности и торговли Российской Федерации (Минпромторг России) и Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии (Росстандарт) при содействии Аппарата Правительства Российской Федерации и Торгово-промышленной палаты Российской Федерации.
Стратегическая задача форума и выставки – создание международной коммуникационной платформы и содействие кооперации в российской системе измерений с целью удовлетворения потребностей страны и общества в высокоточных измерениях. Консолидация усилий власти, науки и бизнеса для развития отечественного приборостроения, повышение эффективности российской системы измерений, совершенствование нормативной базы метрологии и приборостроения с учетом современных международных тенденций для формирования финансовых механизмов поддержки инноваций и их продвижение.
На выставке было представлено более 300 компаний из 11 стран. За время работы выставки ее посетило более 6000 человек.
МИЭМ НИУ ВШЭ представил на выставке стенд «Аппаратно-программный комплекс для измерение электрических характеристик и определения параметров SPICE моделей электронных компонентов, применяемых в аппаратуре, подверженной воздействию температуры и радиации», подготовленным департаментом электронной инженерии МИЭМ НИУ ВШЭ (авторы: Петросянц К.О., Харитонов И.А., Львов Б.Г., Самбурский Л.М., Попов Д.А., Исмаил-Заде М.Р.).
Представляли стенд на выставке профессор Харитонов И.А., ассистент Попов Д.А., студент магистратуры Борисов Д.В.
Стенд вызвал интерес у сотрудников других организаций-экспонентов и посетителей выставки.
Большую помощь организаторам во встрече и сопровождении иностранных гостей выставки оказала команда студентов бакалаврской образовательной программы «Инфокоммуникационные технологии и системы связи» МИЭМ НИУ ВШЭ: Арабов М.Ш., Погорелова М.Д., Филин Д.А., Шейнов Т.Г., Подвойская Т.В., Быкова Е.И.
Участие МИЭМ НИУ ВШЭ в работе выставки было отмечено дипломом: