ФГУПП «НИИП» - 60

Сотрудники департамента Электронной инженерии приняли участие в ежегодной Всероссийской научно-технической конференции «Радиационная стойкость электронных систем», проводимой ФГУПП «НИИП», г. Лыткарино.
В этом году ФГУПП «НИИП» отмечает свое 60-ти летие.  

Ежегодно в работе конференций «Радиационная стойкость электронных систем» принимают участие специалисты более 70 организаций ведущих научно-исследовательских институтов Росатома и Роскосмоса, предприятий оборонных отраслей промышленности, Академии наук, Высшей школы. Программа конференции включает более 150 устных и стендовых докладов по наиболее развивающимся тематическим направлениям.

Тематика конференции включает следующие направления:

• Внешние радиационные условия эксплуатации изделий электронной техники, электротехники и аппаратуры.
• Радиационные и электромагнитные эффекты в изделиях радиоэлектроники, механизмы деградации параметров, отказы, одиночные сбои.
• Оценка и обеспечение радиационной стойкости и надежности изделий электронной техники, электротехники, аппаратуры, радиотехнических материалов, в том числе материалов космического назначения.
• Расчётные и экспериментальные методы определения радиационной стойкости изделий.
• Испытательные установки, дозиметрическое и метрологическое сопровождение испытаний.

От МИЭМ НИУ ВШЭ были представлены  доклады:

• Моделирование радиационно-стимулированного тиристорного эффекта в инверторах, выполненных по различным вариантам КМОП технологии.
  К.О. Петросянц, И.А. Харитонов, Л.М. Самбурский, Д.А. Попов, Р.Ш. Ихсанов (ФГУПП «НИИП»)
• Моделирование сбоеустойчивости КМОП КНИ ячеек памяти при воздействии отдельных тяжелых частиц при повышенной температуре (до 300С)
  К.О. Петросянц, И.А. Харитонов, Д.А. Попов, В. Г. Стахин, С. В. Лебедев (3АО «Зеленоградский нанотехнологический центр»)