• A
  • A
  • A
  • АБB
  • АБB
  • АБB
  • А
  • А
  • А
  • А
  • А
Обычная версия сайта
Контакты

Адрес: 123458, Москва, ул. Таллинская, 34

Телефон: +7 (495) 772-9590 * 15198

E-mail: blvov@hse.ru

Руководство
Руководитель Львов Борис Глебович
Заместитель руководителя Пожидаев Евгений Димитриевич
Заместитель руководителя Самбурский Лев Михайлович
Заместитель руководителя Каган Максим Юрьевич
Заместитель руководителя Селиверстова Людмила Петровна
Книга
Инновационные, информационные и коммуникационные технологии. Сборник трудов XХ Международной научно-практической конференции. Москва, 2023

Под науч. редакцией: С. У. Увайсов

Ассоциация выпускников и сотрудников ВВИА им. проф. Жуковского, 2024.

Глава в книге
ФАЗОВЫЕ ПЕРЕХОДЫ ПОД ДЕЙСТВИЕМ МАГНИТНОГО ПОЛЯ В РЕДКОЗЕМЕЛЬНЫХ НИКЕЛАТАХ

Попова Е. А.

В кн.: СОВРЕМЕННЫЕ ФИЗИКА, МАТЕМАТИКА, ЦИФРОВЫЕ И НАНОТЕХНОЛОГИИ В НАУКЕ И ОБРАЗОВАНИИ (ФМЦН-24) Сборник тезисов III Всероссийской молодежной школы-конференции, посвященной 70-летию со дня рождения профессора Р.М. Асадуллина.. Уфа: Башкирский государственный педагогический университет им. М. Акмуллы, 2024. С. 85-87.

Препринт
Combined Routing Protocol (CRP) for ad hoc networks: Combining strengths of location-based and AODV-based schemes

Sergeev A., Minchenkov V., Солдатов А. В. et al.

arxiv.org. Computer Science. Cornell University, 2025. No. 2501.13671.

Тема «репортаж о событии» – Новости

Всероссийская научно-техническая конференция «Радиационная стойкость электронных систем»

Преподаватели департамента электронной инженерии К.О. Петросянц, И.А. Харитонов, Л.М. Самбурский, Р.Ш. Ихсанов приняли участие в ежегодной Всероссийской научно-технической конференции «Радиационная стойкость электронных систем», проводимой ФГУПП «Научно-исследовательский институт приборов».

Визит в МИЭМ НИУ ВШЭ директора Международного Центра по плотной замагниченной плазме ЮНЕСКО доктора Мариана Падуха

C рабочим визитом МИЭМ НИУ ВШЭ посетил ведущий специалист в области горячей плазмы и ее диагностики, руководитель департамента Института физики плазмы и лазерного микросинтеза (г. Варшава, Польша), PhD, Директор Международного Центра по плотной замагниченной плазме ЮНЕСКО доктор Мариан Падух.

Научно-методический семинар "Современные электрохимические источники тока"

26 мая состоялся очередной научно-методический семинар Академического совета по научной работе департамента электронной инженерии. С докладом «Современные электрохимические источники тока» выступил доцент департамента электронной инженерии, кандидат физико-математических наук Бограчев Даниил Александрович

Научно-практическая конференция «Опыт комплексного использования результатов космической деятельности в интересах регионов России»

Профессора департамента Владимир Петрович Кулагин и Алексей Фёдорович Каперко приняли участие в научно-практической конференции, проходившей 25-26 мая в Инновационном центре «Сколково».

Партнерство с компанией National Instruments выходит на стратегически новый уровень

24 мая состоялась встреча ректора НИУ ВШЭ Я.И. Кузьминова и руководства компании National Instruments (США), в результате которой был подписан меморандум о сотрудничестве НИУ ВШЭ и National Instruments.

Открытие XII Международной IEEE Сибирской конференции по управлению и связи Sibcon-2016

12 мая на базе МИЭМ НИУ ВШЭ состоялось открытие XII Международной IEEE Сибирской конференции по управлению и связи Sibcon-2016, проводимой под председательством руководителя департамента электронной инженерии МИЭМ Бориса Глебовича Львова.

Чествование ветеранов Великой отечественной войны

11 мая в МИЭМ НИУ ВШЭ состоялось чествование ветеранов Великой отечественной войны, работавших в разное время в МИЭМ. На торжественной встрече, на которой присутствовали преподаватели, сотрудники и студенты, ветеранов торжественно и тепло приветствовал от имени руководства заместитель директора МИЭМ Абрамешин А.Е., выразив благодарность и уважение к подвигу фронтовиков - защитников Родины. Низкий поклон Вам! Ваш подвиг помним.

Техно ЭМС - 2016

18-20 апреля в Москве в корпусе МИЭМ НИУ ВШЭ прошла Третья всероссийская научно-техническая конференция «Технологии, измерения и испытания в области электромагнитной совместимости» «ТехноЭМС-2016».

Научно-методический семинар «Математическое моделирование и конвергенция обеспечения надежности бортовой электронной аппаратуры»

14 апреля состоялся очередной научно-методический семинар департамента электронной инженерии. С докладом «Математическое моделирование и конвергенция обеспечения надежности бортовой электронной аппаратуры» выступил лауреат премии Правительства РФ, д.т.н., профессор ДЭИ МИЭМ НИУ ВШЭ Кофанов Юрий Николаевич.

Совещание по подготовке двусторонних научных проектов России и Греции в области квантовых технологий

Профессор департамента Константин Юрьевич Арутюнов принял участие в совещании, прошедшем в рамках визита российских учёных в Грецию.