Преподаватели департамента электронной инженерии К.О. Петросянц, И.А. Харитонов, Л.М. Самбурский, Р.Ш. Ихсанов приняли участие в ежегодной Всероссийской научно-технической конференции «Радиационная стойкость электронных систем», проводимой ФГУПП «Научно-исследовательский институт приборов».
C рабочим визитом МИЭМ НИУ ВШЭ посетил ведущий специалист в области горячей плазмы и ее диагностики, руководитель департамента Института физики плазмы и лазерного микросинтеза (г. Варшава, Польша), PhD, Директор Международного Центра по плотной замагниченной плазме ЮНЕСКО доктор Мариан Падух.
26 мая состоялся очередной научно-методический семинар Академического совета по научной работе департамента электронной инженерии. С докладом «Современные электрохимические источники тока» выступил доцент департамента электронной инженерии, кандидат физико-математических наук Бограчев Даниил Александрович
Профессора департамента Владимир Петрович Кулагин и Алексей Фёдорович Каперко приняли участие в научно-практической конференции, проходившей 25-26 мая в Инновационном центре «Сколково».
24 мая состоялась встреча ректора НИУ ВШЭ Я.И. Кузьминова и руководства компании National Instruments (США), в результате которой был подписан меморандум о сотрудничестве НИУ ВШЭ и National Instruments.
12 мая на базе МИЭМ НИУ ВШЭ состоялось открытие XII Международной IEEE Сибирской конференции по управлению и связи Sibcon-2016, проводимой под председательством руководителя департамента электронной инженерии МИЭМ Бориса Глебовича Львова.
11 мая в МИЭМ НИУ ВШЭ состоялось чествование ветеранов Великой отечественной войны, работавших в разное время в МИЭМ. На торжественной встрече, на которой присутствовали преподаватели, сотрудники и студенты, ветеранов торжественно и тепло приветствовал от имени руководства заместитель директора МИЭМ Абрамешин А.Е., выразив благодарность и уважение к подвигу фронтовиков - защитников Родины. Низкий поклон Вам! Ваш подвиг помним.
18-20 апреля в Москве в корпусе МИЭМ НИУ ВШЭ прошла Третья всероссийская научно-техническая конференция «Технологии, измерения и испытания в области электромагнитной совместимости» «ТехноЭМС-2016».
14 апреля состоялся очередной научно-методический семинар департамента электронной инженерии. С докладом «Математическое моделирование и конвергенция обеспечения надежности бортовой электронной аппаратуры» выступил лауреат премии Правительства РФ, д.т.н., профессор ДЭИ МИЭМ НИУ ВШЭ Кофанов Юрий Николаевич.
Профессор департамента Константин Юрьевич Арутюнов принял участие в совещании, прошедшем в рамках визита российских учёных в Грецию.
