Приближая будущее: форум АDF 2018

13 ноября в Москве компаниями National Instruments и Rohde & Schwarz был проведен форум по проектированию и моделированию РЧ и СВЧ устройств AWR Design Forum (ADF) 2018. По приглашению этих компаний в работе форума принял участие профессор департамента электронной инженерии МИЭМ НИУ ВШЭ Андрей Елизаров.

ADF 2018 - это ежегодный открытый форум, объединяющий пользователей программного обеспечения NI AWR для обучения, сотрудничества и обмена опытом в разработке современных РЧ и СВЧ устройств и систем.

Во время форума было продемонстрировано измерительное оборудование Rohde & Schwarz, а также сделан доклад о системе измерения параметров антенн и использовании AWR для верификации его результатов.

ADF 2018проходил под девизом «Приближая будущее: от синтеза к производству» и был посвящён новому функционалу NI AWR Design Environment 14, обеспечивающему разработчиков полным набором инструментов для эффективного и быстрого перехода от синтеза компонентов к получению успешного проекта, готового к передаче в производство.

Во время работы форума обсуждались следующие темы:

• NI AWR Design Environment 14: взгляд в будущее;
• Алгоритмы синтеза для разработки многодиапазонных согласующих цепей;
• Примеры разработки комплекта монолитных интегральных схем СВЧ для ППМ АФАР с использованием NI AWR Design Environment;
• Верификация топологии печатных плат в NI AWR Design Environment;
• Анализ и моделирование фазированных антенных решёток для систем 5G и активных радаров;
• Презентации от партнёров компании: WIN Semiconductors, AVK Design Team, АО «Микроволновые системы», ООО «Планета-ИРМИС»;
• Использование расчетных рупорных антенн при калибровке антенного стенда: Rohde&Schwarz.

Участники форума получили именные сертификаты.