XVI ежегодный научно-практический семинар с международным участием «Проблемы создания специализированных СБИС на основе гетероструктур»
Мероприятие, в котором 2-3 марта 2016 г. приняли участие преподаватели департамента, было организовано ФГУП «Федеральный научно-производственный центр НИИ измерительных систем им. Ю.Е. Седакова» (г. Нижний Новгород) в лице Межведомственного центра по разработке и производству электронной компонентной базы.
Профессор Департамента электронной инженерии награжден дипломом IEEE REV'2016 за лучшую экспериментальную разработку
С 24 по 26 февраля в Мадриде (Испания) состоялась Международная конференция по дистанционному инженерному и виртуальному оборудованию - IEEE REV'2016 International Conference on Remote Engineering and Virtual Instrumentation
Научно-методический семинар «Внутрисистемная электромагнитная совместимость технических средств»
11 февраля 2016 года состоялось очередное заседание научно-методического семинара. С докладом «Внутрисистемная электромагнитная совместимость технических средств» выступил профессор Департамента электронной инженерии, д.т.н. Кечиев Леонид Николаевич.
Научно-методический семинар «Динамика вихрей в самоорганизованных сверхпроводниковых микро- и наноструктурах»
28 января 2016 г. состоялся очередной научно-методический семинар «Динамика вихрей в самоорганизованных сверхпроводниковых микро- и наноструктурах».
Национальная ежегодная выставка-форум ВУЗПРОМЭКСПО-2015
С 2 по 4 декабря 2015 года в Москве на площадке Технополиса «Москва» прошла III Национальная ежегодная выставка-форум ВУЗПРОМЭКСПО-2015. Департамент электронной инженерии МИЭМ НИУ ВШЭ представлял ВШЭ в рамках проекта 5-100.
Научно-методический семинар «Современные проблемы применения микроволновых технологий в промышленности, сельском хозяйстве и медицине»
26 ноября 2015 г. состоялся первый научно-методический семинар в рамках проведения научных мероприятий ДЭИ на тему «Современные проблемы применения микроволновых технологий в промышленности, сельском хозяйстве и медицине».
II Всероссийская объединенная научная конференция «Проблемы СВЧ электроники» и «Инновационные решения Keysight Technologies»
26-28 октября 2015 г. в МИЭМ НИУ ВШЭ состоялась II Всероссийская объединенная научная конференция «Проблемы СВЧ электроники» и «Инновационные решения Keysight Technologies», посвященная достижениям и перспективам развития сверхвысокочастотной электроники в России и за рубежом.