• A
  • A
  • A
  • АБВ
  • АБВ
  • АБВ
  • А
  • А
  • А
  • А
  • А
Обычная версия сайта

Учебная лаборатория метрологии и измерительных технологий

Публикации
Статья
A high precision VIS/NIR dynamic goniometer-spectrometer

Vishnyakov G., Yurin A., Minaev V. et al.

Metrologia. 2023. Vol. 60. No. 4.

Статья
A differential phase spectropolarimeter for measuring optical rotatory dispersion

Vishnyakov G., Yurin A., Golopolosov A. et al.

Optics and Laser Technology. 2024. Vol. 169.

Статья
Оценка тяжести черепно-мозговых травм

Иванов М. С., Юрин А. И., Красивская М. И.

Медицинская физика. 2020. № 3. С. 86-90.

Статья
Разработка универсальной системы управления рулевыми поверхностями беспилотных летательных аппаратов

Курчин М. Д., Юрин А. И., Красивская М. И.

Датчики и системы. 2020. № 6. С. 15-20.

Глава в книге
Коррекция погрешностей волоконно-оптических измерительных преобразователей

Юрин А. И., Красивская М. И., Чукарин М. И. и др.

В кн.: Инновационные, информационные и коммуникационные технологии: сборник трудов XVI Международной научно-практической конференции. Ассоциация выпускников и сотрудников ВВИА им. проф. Жуковского, 2019. С. 367-370.

Лаборатория создана в 2015 году и является структурным подразделением Департамента электронной инженерии. Лаборатория оснащена оборудованием для приобретения студентами знаний и практических навыков в области обработки измерительной информации и эксплуатации средств измерений в рамках проведения лабораторных работ по профильным дисциплинам магистратуры и метрологическим дисциплинам бакалавриата.

Иллюстрация к новости: II Всероссийская научно-практическая конференция по печатным платам: представление нашей инженерной школы на федеральном уровне

II Всероссийская научно-практическая конференция по печатным платам: представление нашей инженерной школы на федеральном уровне

5-6 июня 2026 г. в Москве прошла II Bсероссийская научно-практическая конференция по проектированию, разработке, материалам и технологиям производства печатных плат.

Иллюстрация к новости: МИЭМ ВШЭ и АО «Нанотроника» запускают совместную мастерскую электронного машиностроения

МИЭМ ВШЭ и АО «Нанотроника» запускают совместную мастерскую электронного машиностроения

Под руководством экспертов компании студенты будут решать задачи, связанные с улучшением характеристик устройств для электронного машиностроения. Среди них — моделирование физических и технологических процессов, расчет, конструирование и автоматизация систем, подсистем и элементов технологического и контрольно-измерительного оборудования, сбор данных, метрологические задачи.

Иллюстрация к новости: НИУ ВШЭ вновь возглавил рейтинг вузов с лучшей репутацией у работодателей по версии Forbes

НИУ ВШЭ вновь возглавил рейтинг вузов с лучшей репутацией у работодателей по версии Forbes

Forbes Education опубликовал рейтинг топ-20 российских вузов с лучшей репутацией у работодателей. Как и последние несколько лет, первое место заняла Высшая школа экономики. Репутационный индекс НИУ ВШЭ составил 98 баллов. При этом 67,2% работодателей отметили, что доверяют качеству подготовки в университете, — это на 3% больше, чем в прошлом году.

Иллюстрация к новости: II Bсероссийская научно-практическая конференция по проектированию, разработке, материалам и технологиям производства печатных плат

II Bсероссийская научно-практическая конференция по проектированию, разработке, материалам и технологиям производства печатных плат

Участие в конференции предоставляет возможность оперативно отслеживать изменения государственной политики в сфере электронной промышленности и устанавливать долгосрочные партнëрские отношения между образовательным и научным сообществом, бизнесом и государственными структурами.

Иллюстрация к новости: «Фотоника-2026»

«Фотоника-2026»

С 31 марта по 2 апреля в ВК «Тимирязев Центр» состоялась 20-я юбилейная международная выставка «Фотоника. Мир лазеров и оптики».

Иллюстрация к новости: Конференция «Микроэлектронные системы»

Конференция «Микроэлектронные системы»

МЭС — это ежегодная всероссийская научная конференция с международным участием, являющаяся составляющей Форума «Микроэлектроника».

Иллюстрация к новости: Новая разработка ученых ВШЭ поможет быстрее и дешевле спроектировать надежную электронику

Новая разработка ученых ВШЭ поможет быстрее и дешевле спроектировать надежную электронику

Российские ученые из МИЭМ ВШЭ разработали новый подход к моделированию электротепловых процессов в мощных электронных схемах на печатных платах. Они научились быстро и точно рассчитывать, как нагреваются электронные компоненты во время работы, чтобы заранее предотвращать их перегрев и поломку. Результаты работы опубликованы в журнале Russian Microelectronics.

Иллюстрация к новости: Ученые НИУ ВШЭ примут участие в работе Российско-китайского института фундаментальных исследований

Ученые НИУ ВШЭ примут участие в работе Российско-китайского института фундаментальных исследований

В Китае дан старт работе Российско-китайского института фундаментальных исследований. В его состав вошли исследовательские центры по математике, физике, химии, науках о жизни и науках о Земле, в их работе будут участвовать ученые НИУ ВШЭ. Также в рамках конференции был представлен проект «Россия и Китай: математика» по изданию 100 учебников и монографий в течение десяти лет. Членами редколлегии стали представители НИУ ВШЭ Иван Аржанцев и Сергей Ландо.

Иллюстрация к новости: "О результатах стажировки в Институте функциональных интеллектуальных материалов (Национальный университет Сингапура)"

"О результатах стажировки в Институте функциональных интеллектуальных материалов (Национальный университет Сингапура)"

Иллюстрация к новости: «Электроника России» - в центре индустрии

«Электроника России» - в центре индустрии

25-27 ноября 2025 года в Москве состоялась 4-я Международная выставка-форум «Электроника России».