- A
- A
- A
- АБB
- АБB
- АБB
- А
- А
- А
- А
- А
Департамент электронной инженерии создан в 2015 году. В научной деятельности мы ориентированы на поиск наиболее эффективных инженерных решений в области электроники и наноэлектроники, физики конденсированного состояния, инфокоммуникационных устройств и систем связи, интеллектуального управления техническими системами. Мы участвуем в реализации образовательных программ для приоритетных направлений развития науки, технологий и техники в России:
- «Инфокоммуникационные технологии и системы связи», «Информационная безопасность» (бакалавриат)
- «Прикладная электроника и фотоника», «Интернет вещей и киберфизические системы», «Информационная безопасность киберфизических систем», «Кибербезопасность» (магистратура).
Инфокоммуникационные технологии и системы связи
70 бюджетных мест
3 государственные стипендии Правительства РФ для иностранцев
10 платных мест
2 платных места для иностранцев
Информационная безопасность
60 бюджетных мест
15 государственных стипендий Правительства РФ для иностранцев
50 платных мест
2 платных места для иностранцев
Бондаренко Г.Г. Материаловедение: учебник для вузов / Г. Г. Бондаренко, Т. А. Кабанова, В. В. Рыбалко ; под редакцией Г. Г. Бондаренко. — 3-е изд., перераб. и доп. — Москва : Издательство Юрайт, 2024. — 381 с. — (Высшее образование). — ISBN 978-5-534-17884-5. — URL: https://urait.ru/bcode/533907
Бондаренко Г. Г., Кабанова Т. А., Рыбалко В. В.
М.: Юрайт, 2024.
В печати
Computers and Electrical Engineering. 2024.
Gupta R., Yelizarov (Elizarov) A. A., Nazarov I. et al.
In bk.: 2024 Systems of signals generating and processing in the field of on board communications. IEEE, 2024. P. 1-5.
Kagan M., Аксёнов С. В.
Research Suqare. Research Square. Springer, 2024. No. 1.
Международное совещание VIIIth International Workshop NDT in Progress
В работе совещания приняли участие 70 известных специалистов из 20-ти стран (Австрия, Бразилия, Великобритания, Греция, Германия, Италия, Индия, США, Тайвань, Чехия, Франция, Южная Корея и др.).
НИУ ВШЭ был представлен в программе этого совещания докладом профессоров департамента электронной инженерии МИЭМ Петросянца К.О. и Харитонова И.А. «Неразрушающий тестирование перегрева электронных компонентов методами инфракрасной термографии» («Non-destructive Testing of Electronic Components Overheating Using Infrared Thermography»).
Ординарный профессор НИУ ВШЭ Петросянц К.О. являлся председателем (руководителем) одной из научных секций совещания «NonDestructive Test in Progress».