- A
- A
- A
- АБB
- АБB
- АБB
- А
- А
- А
- А
- А
Департамент электронной инженерии создан в 2015 году. В научной деятельности мы ориентированы на поиск наиболее эффективных инженерных решений в области электроники и наноэлектроники, физики конденсированного состояния, инфокоммуникационных устройств и систем связи, интеллектуального управления техническими системами. Мы участвуем в реализации образовательных программ для приоритетных направлений развития науки, технологий и техники в России:
- «Инфокоммуникационные технологии и системы связи», «Информационная безопасность» (бакалавриат)
- «Наноэлектроника и квантовые технологии», «Интернет вещей и киберфизические системы», «Информационная безопасность киберфизических систем» (магистратура).
Инфокоммуникационные технологии и системы связи
5 платных мест
3 платных места для иностранцев
Информационная безопасность
15 платных мест
10 платных мест для иностранцев
Инжиниринг в электронике
Материалы. Приборы. Нанотехнологии
Petrosyants K. O., Ismail-zade M. R., Sambursky L. M.
Cryogenics. 2020. Vol. 108. P. 1-6.
Yelizarov (Elizarov) A. A., Kuznetzov A., Nazarov I. et al.
In bk.: 2020 Systems of signals generating and processing in the field of on board communications. IEEE, 2020. P. 1-4.
A.P.Tyutnev, V.S. Saenko, A.D. Zhadov et al.
Polymer Science - Series A. 2020. Vol. 62. No. 3. P. 300-306.
Petrosyants K. O., Sambursky L. M., Kozhukhov M. V. et al.
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems. 2020. P. 1-16.
W. Y. Córdoba-Camacho, da Silva R. M., A.A. Shanenko et al.
Journal of Physics: Condensed Matter. 2020. Vol. 32. No. 075403. P. 1-8.
Международное совещание VIIIth International Workshop NDT in Progress
В работе совещания приняли участие 70 известных специалистов из 20-ти стран (Австрия, Бразилия, Великобритания, Греция, Германия, Италия, Индия, США, Тайвань, Чехия, Франция, Южная Корея и др.).
НИУ ВШЭ был представлен в программе этого совещания докладом профессоров департамента электронной инженерии МИЭМ Петросянца К.О. и Харитонова И.А. «Неразрушающий тестирование перегрева электронных компонентов методами инфракрасной термографии» («Non-destructive Testing of Electronic Components Overheating Using Infrared Thermography»).
Ординарный профессор НИУ ВШЭ Петросянц К.О. являлся председателем (руководителем) одной из научных секций совещания «NonDestructive Test in Progress».