- A
- A
- A
- АБB
- АБB
- АБB
- А
- А
- А
- А
- А
Департамент электронной инженерии создан в 2015 году. В научной деятельности мы ориентированы на поиск наиболее эффективных инженерных решений в области электроники и наноэлектроники, физики конденсированного состояния, инфокоммуникационных устройств и систем связи, интеллектуального управления техническими системами. Мы участвуем в реализации образовательных программ для приоритетных направлений развития науки, технологий и техники в России:
- «Инфокоммуникационные технологии и системы связи», «Информационная безопасность» (бакалавриат)
- «Прикладная электроника и фотоника», «Интернет вещей и киберфизические системы», «Информационная безопасность киберфизических систем», «Кибербезопасность» (магистратура).
Инфокоммуникационные технологии и системы связи
70 бюджетных мест
3 государственные стипендии Правительства РФ для иностранцев
10 платных мест
2 платных места для иностранцев
Информационная безопасность
60 бюджетных мест
15 государственных стипендий Правительства РФ для иностранцев
50 платных мест
2 платных места для иностранцев
Koucheryavy E., Aziz A.
Springer, 2024.
В печати
Мырова Л., Королев П. С., Антонович П. и др.
Электросвязь. 2024. № 4. С. 14-24.
In bk.: 23rd International Conference, NEW2AN 2023, and 16th Conference, ruSMART 2023, Dubai, United Arab Emirates, December 21–22, 2023, Proceedings, Part II. Internet of Things, Smart Spaces, and Next Generation Networks and Systems. LNCS, volume 14543. Springer, 2024. P. 349-362.
Kagan M., Аксёнов С. В.
Research Suqare. Research Square. Springer, 2024. No. 1.
Международное совещание VIIIth International Workshop NDT in Progress
В работе совещания приняли участие 70 известных специалистов из 20-ти стран (Австрия, Бразилия, Великобритания, Греция, Германия, Италия, Индия, США, Тайвань, Чехия, Франция, Южная Корея и др.).
НИУ ВШЭ был представлен в программе этого совещания докладом профессоров департамента электронной инженерии МИЭМ Петросянца К.О. и Харитонова И.А. «Неразрушающий тестирование перегрева электронных компонентов методами инфракрасной термографии» («Non-destructive Testing of Electronic Components Overheating Using Infrared Thermography»).
Ординарный профессор НИУ ВШЭ Петросянц К.О. являлся председателем (руководителем) одной из научных секций совещания «NonDestructive Test in Progress».