- A
- A
- A
- АБB
- АБB
- АБB
- А
- А
- А
- А
- А
Департамент электронной инженерии создан в 2015 году. В научной деятельности мы ориентированы на поиск наиболее эффективных инженерных решений в области электроники и наноэлектроники, физики конденсированного состояния, инфокоммуникационных устройств и систем связи, интеллектуального управления техническими системами. Мы участвуем в реализации образовательных программ для приоритетных направлений развития науки, технологий и техники в России:
- «Цифровые технологии и телекоммуникации» (бакалавриат).
- «Прикладная электроника и фотоника», «Интернет вещей и киберфизические системы», «Аппаратно-программные комплексы искусственного интеллекта», «Цифровой инжиниринг в телекоммуникациях», «Технологии искусственного интеллекта в телекоммуникациях» (магистратура).
Информационная безопасность
80 бюджетных мест
3 государственные стипендии Правительства РФ для иностранцев
70 платных мест
5 платных мест для иностранцев
Цифровые технологии и телекоммуникации
80 бюджетных мест
1 государственная стипендия Правительства РФ для иностранцев
15 платных мест
2 платных места для иностранцев
Комплексное моделирование физических процессов бортовых инфокоммуникационных устройств
Кофанов Ю. Н., Сотникова С. Ю.
М.: Грифон, 2025.
В печати
Zaman N., Li Y., Zheng T. et al.
Journal of Materials Chemistry A. 2026.
Гурский А. С., Арутюнов К. Ю., Шаповалов Д. Л. и др.
В кн.: Фундаментальная математика и ее приложения в естествознании: спутник Международной научной конференции «Уфимская осенняя математическая школа-2025»: тезисы докладов ХVI Международной школы-конференции студентов, аспирантов и молодых ученых (г. Уфа, 6–9 октября 2025 г.). Уфа: Уфимский университет науки и технологий, 2025. С. 146-147.
В печати
Trefilov D., Sixto X., Zapatero V. et al.
quant-ph. arXiv. Cornell University, 2024. No. 00709.
Международное совещание VIIIth International Workshop NDT in Progress
В работе совещания приняли участие 70 известных специалистов из 20-ти стран (Австрия, Бразилия, Великобритания, Греция, Германия, Италия, Индия, США, Тайвань, Чехия, Франция, Южная Корея и др.).
НИУ ВШЭ был представлен в программе этого совещания докладом профессоров департамента электронной инженерии МИЭМ Петросянца К.О. и Харитонова И.А. «Неразрушающий тестирование перегрева электронных компонентов методами инфракрасной термографии» («Non-destructive Testing of Electronic Components Overheating Using Infrared Thermography»).
Ординарный профессор НИУ ВШЭ Петросянц К.О. являлся председателем (руководителем) одной из научных секций совещания «NonDestructive Test in Progress».