- A
- A
- A
- АБB
- АБB
- АБB
- А
- А
- А
- А
- А
Департамент электронной инженерии создан в 2015 году. В научной деятельности мы ориентированы на поиск наиболее эффективных инженерных решений в области электроники и наноэлектроники, физики конденсированного состояния, инфокоммуникационных устройств и систем связи, интеллектуального управления техническими системами. Мы участвуем в реализации образовательных программ для приоритетных направлений развития науки, технологий и техники в России:
- «Инфокоммуникационные технологии и системы связи», «Информационная безопасность» (бакалавриат)
- «Прикладная электроника и фотоника», «Интернет вещей и киберфизические системы», «Информационная безопасность киберфизических систем», «Кибербезопасность» (магистратура).
Инфокоммуникационные технологии и системы связи
79 бюджетных мест
15 платных мест
2 платных места для иностранцев
Иностранным абитуриентам на программе доступны как бюджетные (стипендии Правительства РФ для иностранных граждан), так и платные места
Информационная безопасность
80 бюджетных мест
65 платных мест
2 платных места для иностранцев
Иностранным абитуриентам на программе доступны как бюджетные (стипендии Правительства РФ для иностранных граждан), так и платные места
Electronic Phase Separation in Magnetic and Superconducting Materials. Recent Advances
Kugel K., Kagan M., Rakhmanov A. et al.
Vol. 201. Cham: Springer, 2024.
Lvov A., Razakova A., Shurakov A. et al.
IEEE Antennas and Wireless Propagation Letters. 2025. Vol. 24. No. 1. P. 88-92.
O.V. Stukach, Aimagambetova R., Mekhtiyev A.
In bk.: 2024 International Seminar on Electron Devices Design and Production (SED). IEEE, 2024. P. 1-9.
В печати
Trefilov D., Sixto X., Zapatero V. et al.
quant-ph. arXiv. Cornell University, 2024. No. 00709.
Международное совещание VIIIth International Workshop NDT in Progress
В работе совещания приняли участие 70 известных специалистов из 20-ти стран (Австрия, Бразилия, Великобритания, Греция, Германия, Италия, Индия, США, Тайвань, Чехия, Франция, Южная Корея и др.).
НИУ ВШЭ был представлен в программе этого совещания докладом профессоров департамента электронной инженерии МИЭМ Петросянца К.О. и Харитонова И.А. «Неразрушающий тестирование перегрева электронных компонентов методами инфракрасной термографии» («Non-destructive Testing of Electronic Components Overheating Using Infrared Thermography»).
Ординарный профессор НИУ ВШЭ Петросянц К.О. являлся председателем (руководителем) одной из научных секций совещания «NonDestructive Test in Progress».