• A
  • A
  • A
  • АБB
  • АБB
  • АБB
  • А
  • А
  • А
  • А
  • А
Обычная версия сайта
Контакты

Адрес: 123458, Москва, ул. Таллинская, 34

Телефон: +7 (495) 772-9590 * 15198

E-mail: blvov@hse.ru

Руководство
Руководитель Львов Борис Глебович
Заместитель руководителя Пожидаев Евгений Димитриевич
Заместитель руководителя Самбурский Лев Михайлович
Заместитель руководителя Каган Максим Юрьевич
Департамент электронной инженерии: Заместитель руководителя департамента Селиверстова Людмила Петровна
Глава в книге
Prospects for Applications of Small-Sized Antennas on Flexible Substrates

Yelizarov (Elizarov) A. A., Kuznetzov A., Nazarov I. et al.

In bk.: 2020 Systems of signals generating and processing in the field of on board communications. IEEE, 2020. P. 1-4.

Статья
Electron Transport in Polyethyleneterephthalate

A.P.Tyutnev, V.S. Saenko, A.D. Zhadov et al.

Polymer Science - Series A. 2020. Vol. 62. No. 3. P. 300-306.

Статья
SPICE Compact BJT, MOSFET and JFET Models for ICs Simulation in the Wide Temperature Range (from -200 °C to +300 °C)

Petrosyants K. O., Sambursky L. M., Kozhukhov M. V. et al.

IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems. 2020. P. 1-16.

Статья
Spontaneous pattern formation in superconducting films

W. Y. Córdoba-Camacho, da Silva R. M., A.A. Shanenko et al.

Journal of Physics: Condensed Matter. 2020. Vol. 32. No. 075403. P. 1-8.

Международное совещание VIIIth International Workshop NDT in Progress

С 12 по 14 октября 2015 г. в столице Чехии г. Прага состоялось Международное совещание экспертов по проблеме «Влияние неразрушающих методов тестирования и контроля на технический прогресс» (VIIIth International Workshop on NonDestructive Test (NDT) in Progress).

В работе совещания приняли участие 70 известных специалистов  из 20-ти стран (Австрия, Бразилия, Великобритания, Греция, Германия, Италия, Индия, США, Тайвань, Чехия, Франция, Южная Корея и др.).

НИУ ВШЭ был представлен в программе этого совещания докладом профессоров департамента электронной инженерии МИЭМ Петросянца К.О. и Харитонова И.А. «Неразрушающий тестирование перегрева электронных компонентов методами инфракрасной термографии» («Non-destructive Testing of Electronic Components Overheating Using Infrared Thermography»).

Ординарный профессор НИУ ВШЭ Петросянц К.О. являлся председателем (руководителем) одной из научных секций совещания «NonDestructive Test in Progress».