• A
  • A
  • A
  • АБB
  • АБB
  • АБB
  • А
  • А
  • А
  • А
  • А
Обычная версия сайта
Контакты

Адрес: 123458, Москва, ул. Таллинская, 34

Телефон: +7 (495) 772-9590 * 15198

E-mail: blvov@hse.ru

Руководство
Руководитель Львов Борис Глебович
Заместитель руководителя Пожидаев Евгений Димитриевич
Заместитель руководителя Самбурский Лев Михайлович
Заместитель руководителя Каган Максим Юрьевич
Департамент электронной инженерии: Заместитель руководителя департамента Селиверстова Людмила Петровна
Глава в книге
Prospects for Applications of Small-Sized Antennas on Flexible Substrates

Yelizarov (Elizarov) A. A., Kuznetzov A., Nazarov I. et al.

In bk.: 2020 Systems of signals generating and processing in the field of on board communications. IEEE, 2020. P. 1-4.

Статья
Electron Transport in Polyethyleneterephthalate

A.P.Tyutnev, V.S. Saenko, A.D. Zhadov et al.

Polymer Science - Series A. 2020. Vol. 62. No. 3. P. 300-306.

Статья
SPICE Compact BJT, MOSFET and JFET Models for ICs Simulation in the Wide Temperature Range (from -200 °C to +300 °C)

Petrosyants K. O., Sambursky L. M., Kozhukhov M. V. et al.

IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems. 2020. P. 1-16.

Статья
Spontaneous pattern formation in superconducting films

W. Y. Córdoba-Camacho, da Silva R. M., A.A. Shanenko et al.

Journal of Physics: Condensed Matter. 2020. Vol. 32. No. 075403. P. 1-8.

18-я Всероссийская научно-техническая конференция «Радиационная стойкость электронных систем» (СТОЙКОСТЬ-2015)

Сотрудники департамента приняли участие в ежегодной 18-ой Всероссийской научно-технической конференции «Радиационная стойкость электронных систем» (СТОЙКОСТЬ-2015), которая проходила 2-3 июня 2015 г. в г. Лыткарино.

Конференция проведена ФГУП «Научно-исследовательский институт приборов» прошла в соответствии с Планом проведения научно-технических мероприятий госкорпорации «Росатом».

Тематика конференции включала следующие направления:

  1. Внешние радиационные условия эксплуатации изделий электронной техники, электротехники и аппаратуры.
  2. Радиационные и электромагнитные эффекты в изделиях радиоэлектроники, механизмы деградации параметров, отказы, одиночные сбои.
  3. Оценка и обеспечение радиационной стойкости и надежности изделий электронной техники, электротехники, аппаратуры, радиотехнических материалов, в том числе материалов космического назначения.
  4. Расчётные и экспериментальные методы определения радиационной стойкости изделий.
  5. Испытательные установки, дозиметрическое и метрологическое сопровождение испытаний.

В работе конференции приняли участие до 70 организаций отечественных НИИ, Росатома, Роскосмоса, Минобрнауки, Минобороны, Академии наук, высшей школы. Было представлено около 150 устных и стендовых научных докладов.
Преподаватели департамента К.О. Петросянц, И.А. Харитонов, Л.М. Самбурский и соискатель А.С. Мокеев представили доклад «Определение параметров SPICE и IBIS моделей ЭКБ для учета эффектов радиационных воздействий на основании результатов измерения их характеристик».