• A
  • A
  • A
  • АБB
  • АБB
  • АБB
  • А
  • А
  • А
  • А
  • А
Обычная версия сайта
Контакты

Адрес: 123458, Москва, ул. Таллинская, 34

Телефон: +7 (495) 772-9590 * 15198

E-mail: blvov@hse.ru

Руководство
Руководитель Львов Борис Глебович
Заместитель руководителя Пожидаев Евгений Димитриевич
Заместитель руководителя Самбурский Лев Михайлович
Заместитель руководителя Каган Максим Юрьевич
Заместитель руководителя Селиверстова Людмила Петровна

18-я Всероссийская научно-техническая конференция «Радиационная стойкость электронных систем» (СТОЙКОСТЬ-2015)

Сотрудники департамента приняли участие в ежегодной 18-ой Всероссийской научно-технической конференции «Радиационная стойкость электронных систем» (СТОЙКОСТЬ-2015), которая проходила 2-3 июня 2015 г. в г. Лыткарино.

Конференция проведена ФГУП «Научно-исследовательский институт приборов» прошла в соответствии с Планом проведения научно-технических мероприятий госкорпорации «Росатом».

Тематика конференции включала следующие направления:

  1. Внешние радиационные условия эксплуатации изделий электронной техники, электротехники и аппаратуры.
  2. Радиационные и электромагнитные эффекты в изделиях радиоэлектроники, механизмы деградации параметров, отказы, одиночные сбои.
  3. Оценка и обеспечение радиационной стойкости и надежности изделий электронной техники, электротехники, аппаратуры, радиотехнических материалов, в том числе материалов космического назначения.
  4. Расчётные и экспериментальные методы определения радиационной стойкости изделий.
  5. Испытательные установки, дозиметрическое и метрологическое сопровождение испытаний.

В работе конференции приняли участие до 70 организаций отечественных НИИ, Росатома, Роскосмоса, Минобрнауки, Минобороны, Академии наук, высшей школы. Было представлено около 150 устных и стендовых научных докладов.
Преподаватели департамента К.О. Петросянц, И.А. Харитонов, Л.М. Самбурский и соискатель А.С. Мокеев представили доклад «Определение параметров SPICE и IBIS моделей ЭКБ для учета эффектов радиационных воздействий на основании результатов измерения их характеристик».