Инженерные приложения и научные разработки на базе технологий National Instruments 2017
13 и 14 апреля в МИЭМ НИУ ВШЭ прошла Международная научно-практическая конференция «Инженерные приложения и научные разработки на базе технологий National Instruments 2017», организуемая совместно с компанией National Instruments.
Специалисты в области надежности аппаратуры – на вес золота
Одно из направлений исследований в МИЭМ на протяжении всей истории существования института – изучение вопросов надежности оборудования и аппаратуры. Сегодня в этой области пишут свои диссертации три наших аспиранта, научную деятельность которых курирует профессор департамента электронной инженерии Валерий Владимирович Жаднов.
ТехноЭМС-2017
28-29 марта в МИЭМ НИУ ВШЭ состоялась Четвертая научно-техническая конференция «Технологии, измерения и испытания в области электромагнитной совместимости «ТехноЭМС-2017». В программе конференции было запланировано заслушать и обсудить доклады ведущих специалистов предприятий, организаций, ВУЗов в области ЭМС, представителей Ростехрегулирования и других федеральных органов исполнительной власти. Также в конференции участвовали студенты и аспиранты различных вузов.
Электроника без помех
16 марта в МИЭМ НИУ ВШЭ состоялся Научно-методический семинар «Электроника без помех. Разработка современной электроники с учетом требований сертификации конечных изделий по ЭМС. Полезные ресурсы и сервисы» Академического совета по научной работе департамента электронной инженерии с участием зарубежного специалиста.