• A
  • A
  • A
  • АБB
  • АБB
  • АБB
  • А
  • А
  • А
  • А
  • А
Обычная версия сайта
Контакты

Адрес: 123458, Москва, ул. Таллинская, 34

Телефон: +7 (495) 772-9590 * 15198

E-mail: blvov@hse.ru

Руководство
Руководитель Львов Борис Глебович
Заместитель руководителя Пожидаев Евгений Димитриевич
Заместитель руководителя Самбурский Лев Михайлович
Заместитель руководителя Каган Максим Юрьевич
Заместитель руководителя Селиверстова Людмила Петровна
Статья
Quarter-Wave Unit Cell With Grounded Log-Periodic Spiral for a Sub-THz Reconfigurable Intelligent Surface With Sector Beam

Shurakov A., Rozhkova P., Belikov I. et al.

IEEE Antennas and Wireless Propagation Letters. 2026. Vol. 25. No. 2. P. 706-710.

Глава в книге
МЕТОД КОРРЕКТИРОВКИ ДЛЯ УЛУЧШЕНИЯ ТОЧНОСТИ ПОЗИЦИОНИРОВАНИЯ ВНУТРИ ПОМЕЩЕНИЙ НА ОСНОВЕ BLE МАЯКОВ

Лясковский А. Д.

В кн.: XXIX Межвузовская научно-техническая конференция студентов, аспирантов и молодых специалистов им. Е.В. Арменского. М.: ООО "Издательский дом Медиа паблишер", 2025. С. 258-260.

Препринт
Intensity correlations in decoy-state BB84 quantum key distribution systems
В печати

Trefilov D., Sixto X., Zapatero V. et al.

quant-ph. arXiv. Cornell University, 2024. No. 00709.

"TCAD моделирование в современной электронике: проблемы и возможности"

22 Декабря 2022 г. состоялся научно-методический семинар Академического совета по научной работе департамента электронной инженерии МИЭМ НИУ ВШЭ. C докладом  по теме "TCAD моделирование в современной электронике: проблемы и возможности"выступил доцент НИУ ВШЭ, к.т.н. доцент Денис Сергеевич Силкин.

"TCAD моделирование в современной электронике: проблемы и возможности"

22 Декабря 2022 г. состоялся научно-методический семинар Академического совета по научной работе департамента электронной инженерии МИЭМ НИУ ВШЭ. C докладом  по теме "TCAD моделирование в современной электронике: проблемы и возможности"выступил доцент НИУ ВШЭ, к.т.н. доцент Денис Сергеевич Силкин.

Доклад был посвящён вопросам разработки и применения TCAD-моделей современных электронных компонентов. Представлены наработки в создании библиотеки типовых полуавтоматизированных TCAD-моделей, предназначенных для исследования влияния параметров структур на работу полупроводниковых приборов, а также исследования поведения полупроводниковых приборов под воздействием таких внешних факторов, как изменение температуры, гамма-облучение или удары тяжёлых заряженных частиц.

В заключении доклада автор поделился идеями внедрения TCAD-моделей в учебный процесс.

Доклад вызвал оживлённую дискуссию с участием профессоров НИУ ВШЭ Б.Г. Львова, Ю.Н. Кофанова, Н.Н. Грачева.

Файл записи научно-методического семинара доступен по ссылке:https://drive.google.com/file/d/19iFsIfrqYfOBRG7UzIaQ3XdA3VDKm3qQ/view?ts=63a575d9