• A
  • A
  • A
  • АБB
  • АБB
  • АБB
  • А
  • А
  • А
  • А
  • А
Обычная версия сайта
Контакты

Адрес: 123458, Москва, ул. Таллинская, 34

Телефон: +7 (495) 772-9590 * 15198

E-mail: blvov@hse.ru

Руководство
Руководитель Львов Борис Глебович
Заместитель руководителя Пожидаев Евгений Димитриевич
Заместитель руководителя Самбурский Лев Михайлович
Заместитель руководителя Каган Максим Юрьевич
Заместитель руководителя Селиверстова Людмила Петровна
Статья
Модель оценки эффективности систем защиты информации

Душкин А. В.

Безопасность информационных технологий. 2024. Т. 31. № 4. С. 56-66.

Глава в книге
Reflectarray-Assisted Spacial Binning in HEB-Based Terahertz Dispersive Spectrometer

Shurakov A., Lvov A., Belikov I. et al.

In bk.: 2024 IEEE 9th All-Russian Microwave Conference (RMC). IEEE, 2024. P. 196-199.

Препринт
Combined Routing Protocol (CRP) for ad hoc networks: Combining strengths of location-based and AODV-based schemes

Sergeev A., Minchenkov V., Солдатов А. В. et al.

arxiv.org. Computer Science. Cornell University, 2025. No. 2501.13671.

"TCAD моделирование в современной электронике: проблемы и возможности"

22 Декабря 2022 г. состоялся научно-методический семинар Академического совета по научной работе департамента электронной инженерии МИЭМ НИУ ВШЭ. C докладом  по теме "TCAD моделирование в современной электронике: проблемы и возможности"выступил доцент НИУ ВШЭ, к.т.н. доцент Денис Сергеевич Силкин.

"TCAD моделирование в современной электронике: проблемы и возможности"

22 Декабря 2022 г. состоялся научно-методический семинар Академического совета по научной работе департамента электронной инженерии МИЭМ НИУ ВШЭ. C докладом  по теме "TCAD моделирование в современной электронике: проблемы и возможности"выступил доцент НИУ ВШЭ, к.т.н. доцент Денис Сергеевич Силкин.

Доклад был посвящён вопросам разработки и применения TCAD-моделей современных электронных компонентов. Представлены наработки в создании библиотеки типовых полуавтоматизированных TCAD-моделей, предназначенных для исследования влияния параметров структур на работу полупроводниковых приборов, а также исследования поведения полупроводниковых приборов под воздействием таких внешних факторов, как изменение температуры, гамма-облучение или удары тяжёлых заряженных частиц.

В заключении доклада автор поделился идеями внедрения TCAD-моделей в учебный процесс.

Доклад вызвал оживлённую дискуссию с участием профессоров НИУ ВШЭ Б.Г. Львова, Ю.Н. Кофанова, Н.Н. Грачева.

Файл записи научно-методического семинара доступен по ссылке:https://drive.google.com/file/d/19iFsIfrqYfOBRG7UzIaQ3XdA3VDKm3qQ/view?ts=63a575d9