• A
  • A
  • A
  • АБB
  • АБB
  • АБB
  • А
  • А
  • А
  • А
  • А
Обычная версия сайта
ФКН
Статья
Improvement of the standards base for optophysical measurements

Golubev S., Krutikov V.N., Ivanov V. и др.

Measurement Techniques. 2016. Т. 58. № 11. С. 1189-1194.

Статья
Study of the correlation properties of the surface structure of nc-Si/a-Si:H films with different fractions of the crystalline phase

Alpatov A., Vikhrov S., Kazanskii A. et al.

Semiconductors. 2016. Vol. 50. No. 5. P. 590-595.

Сотрудники