Публикации

Усовершенствование эталонной базы оптико-физических измерений

Метрологическое обеспечение измерений частоты излучения в оптических системах обработки информации

Спектрорадиометрия ультрафиолетового излучения

Читайте и узнаете: • почему не всегда целесообразно приобретать средства измерений за рубежом; • о роли метрологического надзора в обеспечении качества продукции; • какие проблемы метрологического обеспечения необходимо решить, чтобы гарантировать качество и конкурентоспособность отечественной продукции.

Создание центра метрологического обеспечения нанотехнологий и продукции наноиндустрии

The correlation properties of the structure of nc-Si/a-Si:H films with different volume fractions of the crystalline phase are studied using 2D detrended fluctuation analysis. Study of the surface relief of experimental samples showed that with increasing in volume fraction of the crystalline phase in thenc-Si/a-Si:H films, the size and number of nanoclusters on their surface grow. The size of Si nanocrystals in the a-Si:H matrix (6–8 nm) indicates the formation of coarse nanoclusters due to the self-organization of Si nanocrystals in groups under laser radiation. According to 2D detrended fluctuation analysis data, the number of correlation vectors (harmonic components) in the nc-Si/a-Si:H film structure increased with an increase in the nanocrystal fraction in the films.

Представлены результаты разработки экспериментального образца меры с элементами рельефа менее 100 нм для калибровки оптических, ближнепольных и электронных микроскопов на основе металлизированого электронного резиста (покрытия).

Исследовались гомохиральные растворы трифторацетилированных аминоспиртов (ТФААС). Выявлено, что происходит агрегация молекул ТФААС в субмикроскопические струны с дальним порядком и винтовой симметрией и далее реализуется последовательное формирование путем суперспирализации сменяющих друг друга хиральных фаз (элементарные струны объединяются в микроскопические за счет ван-дер-ваальсова взаимодействия), наблюдающееся как структурный переход с шириной 20–40°С. Предложена микроскопическая модель струны, которая учитывает, что стереоспецифичность многоцентрового взаимодействия (комплементарность), навязанная хиральностью, приводит к “стопочной” компактной молекулярной упаковке (субмикроскопической или элементарной) струны с дальним порядком.

Рассмотрены вопросы, затрагивающие связь метрологии и экономики государства. Показано существование прямой зависимости конкурентоспособности товаров и услуг на мировом рынке от уровня развития метрологии. Исследованы различные разделы обеспечения единства измерений, эффективная государственная поддержка которых позволяет развивать наукоемкие технологии и производить высокотехнологичную продукцию. На основе анализа деятельности ведущих зарубежных и национальных метрологических институтов, опубликованных результатов различных научно-исследовательских работ, научно-аналитических и ежегодных отчетных материалов доказано, что экономический успех зависит, в том числе, от способности производить и продавать точно измеренные и достоверно испытанные товары и услуги.

Представлены основные сведения об оптических диэлектрических микрорезонаторах с модами типа шепчущей галереи. Описаны их свойства, технологии изготовления, области применения, а также наиболее важные достижения последнего времени. Такие микрорезонаторы могут быть использованы в высокостабильных источниках СВЧ-сигналов и оптических частотных гребенках, позволяющих связывать эталоны частот оптического и радиодиапазонов.

Статья посвящена вопросам инноваций в микроэлектроном обучении для для аэрокосмической отрасли. Обсуждаются три предложения по улучшению качества подготовки студентов: 1) специальные магистерские программы, 2) базовые кафедры с ведущими предприятиями, 3) специальные Центры проектирования и исследований в экстремальной электронике.

Приведены данные, показывающие, что гибкая связь "Университет-предприятие" может помочь в подготовке следующего поколения инженеров для микроэлектроной отрасли , удовлетворяющих требованиям аэрокосмической отрасли.

Determination of the metrological characteristics of the near-field scanning optical microscope in the study of biological objects

Исследованы спектры рамановского рассеяния пленок аморфного гидрогенизированного кремния, подвергнутых фемтосекундному лазерному облучению. Плотность энергии лазерных импульсов именялась от 30 до 155 mJ/cm2. Впервые получено распределение объемной доли кристаллической фазы по поверхности исследованных пленок и установлена корреляция между изменением объемной доли кристаллической фазы и изменением концентрации водорода в пленках аморфного гидрогенизированного кремния при их кристаллизации фемтосекундным лазерным излучением.

Представлены результаты разработеки Государственного первичного эталона единицы оптической плотности ГЭТ 206-2013. Приведены данные по исследованию характеристик эталона, исследованию геометрических и спектральных характеристик его узлов и блоков. Представлены также результаты по измерению метрологических характеристик ГЭТ 206-2013 и оценке неопределенности воспроизведения и передачи единицы оптической плотности.

Optimization of the parameters of a standard source of synchrotron radiation with strong magnetic field for calibration of ultraviolet plasma radiators and integral radiometer-dosimeters

Проанализированы материалы и международные нормативно-методические документы, посвященные методам ареальной (зонной) характеризации топографии и текстуры шероховатой поверхности. Рассмотрены вопросы применения специальных фильтров, призванных устранять нежелательные компоненты измеряемой поверхности. Показан современный стандартизованный подход к разделению шероховатости и волнистости на первичной (основной) поверхности.

Рассмотрены вопросы создания эталонных источников низкоуровнего оптического сигнала на основе наноразмерных диафрагм и полупроводниковых квантовых точек. Предложено использование технологии фокусированного ионного пучка для выделения одиночных квантовых точек.