• A
  • A
  • A
  • АБB
  • АБB
  • АБB
  • А
  • А
  • А
  • А
  • А
Обычная версия сайта
Контакты

Адрес: 123458, Москва, ул. Таллинская, 34

Телефон: +7 (495) 772-9590 * 15198

E-mail: blvov@hse.ru

Руководство
Руководитель Львов Борис Глебович
Заместитель руководителя Пожидаев Евгений Димитриевич
Заместитель руководителя Самбурский Лев Михайлович
Заместитель руководителя Каган Максим Юрьевич
Заместитель руководителя Селиверстова Людмила Петровна
Книга
Материаловедение: учебник для вузов

Бондаренко Г. Г., Кабанова Т. А., Рыбалко В. В.

М.: Юрайт, 2024.

Глава в книге
Inherent Impedance Transformation and Isolation in Dual-Band Balun For RF Front End Applications

Rahul Gupta, A.A. Yelizarov, I.V. Nazarov et al.

In bk.: 2024 Systems of signals generating and processing in the field of on board communications. IEEE, 2024. P. 1-5.

Препринт
Majorana modes and Fano resonances in Aharonov- Bohm ring with topologically nontrivial superconducting bridge

Kagan M., Аксёнов С. В.

Research Suqare. Research Square. Springer, 2024. No. 1.

TCAD моделирование в современной электронике: проблемы и возможности.

16+
Мероприятие завершено
22 декабря 2022 г. пройдет научно-методический семинар Академического совета по научной работе департамента электронной инженерии МИЭМ НИУ ВШЭ. 
Докладчик: Силкин Денис Сергеевич, к.т.н., доцент департамента электронной инженерии. 
Тема доклада: TCAD моделирование в современной электронике: проблемы и возможности.
Аннотация: Доклад посвящён вопросам разработки и применения TCAD-моделей современных электронных компонентов. Представлены наработки в создании библиотеки типовых полуавтоматизированных TCAD-моделей, предназначенных для исследования влияния параметров структур на работу полупроводниковых приборов, а также исследования поведения полупроводниковых приборов под воздействием таких внешних факторов, как изменение температуры, гамма-облучение или удары тяжёлых заряженных частиц.

Язык мероприятия: русский.
Время проведения: с 14.00 до 15.30.
Семинар состоится в режиме онлайн по ссылке: https://meet.miem.hse.ru/321