Публикации
Проведено компьютерное моделирование глубинного хода поглощенной дозы в зависимости от энергии электронного облучения действующего в диапазоне 30-60 кэВ, и проведены расчеты коэффициента накопления дозы в этих условиях для полиэтилентерефталата, полиметилметакрилата, полистирола и полиэтилена низкой плотности, как модельных полимеров корпусов микроэлектронных устройств. Показано, что значения энергии электронов, соответствующие максимальному коэффициенту накопления дозы, зависят от плотности полимера.
Проведенные исследования позволяют с большой точностью определять проводимость пластиковых корпусов микроэлектронных устройств в условиях электронного облучения, что представляет особый интерес для исключения физической возможности возникновения электростатических разрядов, приводящих к отказам бортовой электроники космических аппаратов.