• A
  • A
  • A
  • АБВ
  • АБВ
  • АБВ
  • А
  • А
  • А
  • А
  • А
Обычная версия сайта
Публикации
Публикации
Глава в книге
Automatic Search of Reliability Function by Symbolic Regression

Zhadnov V.V., Diveev A., Sofronova E. et al.

In bk.: Proceedings of 2017 4th International Conference on Control, Decision and Information Technologies (CoDIT'17) / April 5-7, 2017. Barcelona: IEEE, 2017. P. 0061-0066.

Выступление участников группы на Ежегодной научно-технической конференции студентов, аспирантов и молодых специалистов МИЭМ НИУ ВШЭ 2015

06 февраля 2015 г. двое участников научно-учебной группы "Долговечность электронных средств" приняли участие в Ежегодной научно-технической конференции студентов, аспирантов и молодых специалистов МИЭМ НИУ ВШЭ 2014.

В секции 3. «ЭЛЕКТРОНИКА» а) Электроника и приборостроение - аспирант 3 г.о. Артюхова Майя Александровна МИЭМ НИУ ВШЭ и студент 4 курса бакалавриата Королев Павел Сергеевич МИЭМ НИУ ВШЭ выступили с докладами на Ежегодной научно-технической конференции студентов, аспирантов и молодых специалистов МИЭМ НИУ ВШЭ 2015.