Научно-методический семинар Академического совета по научной работе департамента электронной инженерии МИЭМ НИУ ВШЭ "Влияние ионизирующих излучений на характеристики полупроводниковых приборов".

30 марта  состоится научно-методический семинар Академического совета по научной работе департамента электронной инженерии МИЭМ НИУ ВШЭ.

Докладчик: Кожухов Максим Владимирович, к.т.н., доцент департамента электронной инженерии МИЭМ, начальник лаборатории АО «Корпорация "ВНИИЭМ"».

Тема доклада: 

Влияние ионизирующих излучений на характеристики полупроводниковых приборов.

Аннотация: 

Современная электронная компонентная база, разрабатываемая для аппаратуры специального назначения (космических систем, военной техники и атомной энергетики), требует повышенной надежности и стойкости к внешним воздействующим факторам (ВВФ), таким как проникающая радиация, высокие и низкие температуры и др. Поэтому для обеспечения высоких уровней стойкости к ВВФ важно применение современных подходов к ее проектированию, которые могут быть обеспечены схемотехническими и приборно-технологическими САПР.

В докладе будут представлены: 

– источники проникающей радиации и радиационные эффекты, возникающие при воздействии ионизирующих излучений на полупроводниковые приборы;

– влияние ионизирующих излучений на структуру, электрофизические и электрические характеристики полупроводниковых приборов;

– современное состояние приборно-технологических и схемотехнических моделей, позволяющих учитывать радиационные и тепловые эффекты в полупроводниковых приборах. 

Язык мероприятия: русский.

Время проведения: 30 марта 2023 г. с 14.30 до 16.00.

Семинар состоится в режиме онлайн по ссылке: