• A
  • A
  • A
  • АБB
  • АБB
  • АБB
  • А
  • А
  • А
  • А
  • А
Обычная версия сайта
ФКН
Контакты

Адрес: 123458, Москва, ул. Таллинская, 34

Телефон: +7 (495) 772-9590 * 15198

E-mail: blvov@hse.ru

Руководство
Руководитель Львов Борис Глебович
Заместитель руководителя Пожидаев Евгений Димитриевич
Заместитель руководителя Самбурский Лев Михайлович
Заместитель руководителя Каган Максим Юрьевич
Заместитель руководителя Селиверстова Людмила Петровна
Статья
Analytical Model of 5G V2X Mode 2 for Sporadic Traffic

Bankov D., Khorov E., Krasilov A. et al.

IEEE Wireless Communications Letters. 2023. P. 1-5.

Глава в книге
Методы и программное обеспечение трассировки лучей для миллиметровых и терагерцовых систем связи 5G/6G

Просвиров В. А., Али А., Мокров Е. В.

В кн.: Информационно-телекоммуникационные технологии и математическое моделирование высокотехнологичных систем: материалы Всероссийской конференции с международным участием, Москва, РУДН, 17–21 апреля 2023 г.. М.: Российский университет дружбы народов, 2023. С. 277-282.

Препринт
Superconducting spin valves based on a single spiral magnetic layer

Pugach N., Safonchik M. O., Belotelov V. et al.

cond-mat, 2022. No. 2110.00369.

Научно-методический семинар Академического совета по научной работе департамента электронной инженерии МИЭМ НИУ ВШЭ "Влияние ионизирующих излучений на характеристики полупроводниковых приборов".

18+
Мероприятие завершено

30 марта  состоится научно-методический семинар Академического совета по научной работе департамента электронной инженерии МИЭМ НИУ ВШЭ.

 

Докладчик: Кожухов Максим Владимирович, к.т.н., доцент департамента электронной инженерии МИЭМ, начальник лаборатории АО «Корпорация "ВНИИЭМ"».

Тема доклада: 

Влияние ионизирующих излучений на характеристики полупроводниковых приборов.

Аннотация: 

Современная электронная компонентная база, разрабатываемая для аппаратуры специального назначения (космических систем, военной техники и атомной энергетики), требует повышенной надежности и стойкости к внешним воздействующим факторам (ВВФ), таким как проникающая радиация, высокие и низкие температуры и др. Поэтому для обеспечения высоких уровней стойкости к ВВФ важно применение современных подходов к ее проектированию, которые могут быть обеспечены схемотехническими и приборно-технологическими САПР.

В докладе будут представлены: 

– источники проникающей радиации и радиационные эффекты, возникающие при воздействии ионизирующих излучений на полупроводниковые приборы;

– влияние ионизирующих излучений на структуру, электрофизические и электрические характеристики полупроводниковых приборов;

– современное состояние приборно-технологических и схемотехнических моделей, позволяющих учитывать радиационные и тепловые эффекты в полупроводниковых приборах. 

 

Язык мероприятия: русский.

Время проведения: 30 марта 2023 г. с 14.30 до 16.00.

Семинар состоится в режиме онлайн по ссылке:

https://meet.miem.hse.ru/321