Современные подходы к разработке автоматизированных тестовых систем на базе технологий National Instruments

17 октября 2017 г. заведующий кафедрой Радиоэлектроники и телекоммуникаций МИЭМ НИУ ВШЭ Увайсов С.У. принял участие в работе семинара «Современные подходы к разработке автоматизированных тестовых систем на базе технологий National Instruments», который проходил в конгресс-центре МТУСИ.

17 октября 2017 г. зав. кафедрой Радиоэлектроники и телекоммуникаций МИЭМ НИУ ВШЭ Увайсов С.У. принял участие в работе семинара «Современные подходы к разработке автоматизированных тестовых систем на базе технологий National Instruments», который проходил в конгресс-центре МТУСИ.

На семинаре обсуждались вопросы связанные с использованием:

1. Платформы National Instruments PXI/PXI Express для построения автоматизированных измерительных систем (ATE);
2. Системы PXI для автоматизированных измерений в области радиоэлектроники и радиосвязи.

 

Был продемонстрирован ряд решений и приложений, полученных с применением технологий National Instruments.